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NI 테스트 기술 포럼 2017

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NI 테스트 기술 포럼 2017

6월 15일(목) 10시~ 16시 50분
@ 서울 양재 엘타워 6층 그레이스홀

 

 

 

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6월 28일(수) 12시~ 16시 20분 
@ 대전 컨벤션 센터(DCC) 101호

한국내쇼날인스트루먼트는 5G 및 무선통신, 전자/반도체 테스트 신기술을 한 자리에서 만나볼 수 있는 NI 테스트 기술 포럼 2017을 개최합니다.


서울과 대전 총 2가지 지역에서 개최하게 되는 이번 포럼에서는 최근 4차 산업혁명의 핵심 키워드로 떠오른 주요 산업영역 (전자/반도체, 무선통신, 5G) 에서의 엔지니어링 과제를 해결 하기 위한 다양한 방법을 소개할 예정입니다.


또한 이번 행사에서 10여개 이상의 NI 및 파트너사의 솔루션과 전문 엔지니어의 맞춤형 테스트 솔루션 컨설팅을 통해 첨단 솔루션과 전문 지식을 얻어가시기 바랍니다.


NI 테스트 기술 포럼 2017에 참가해야 하는 이유

1. 복잡해지는 테스트 엔지니어링 과제를 효과적으로 해결할 수 있는 솔루션 제시

2. 최신 무선통신 기술 트렌드와 글로벌 주요 업체들의 사례 공유 : NB-IoT, NFC, 802.11ax 

3. 미래 무선통신 표준이 될 실시간 5G 프로토타이핑을 빠르게 구현할 수 있는 솔루션 공유: Verizon, AT&T, Nokia 등

4. 놓치기 아까운 15개의 기술 세션 및 실습 세미나와 10여개 이상의 NI, 파트너 솔루션

5. 전문 엔지니어의 맞춤형 테스트 솔루션 컨설팅


NI 테스트 기술 포럼 2017 아젠다

  반도체 / 테스트 자동화 5G / 무선통신
09:30~10:00 행사등록 전시데모 관람
10:00~10:40 기조연설: Smart Device Test and Future Wireless Technology
10:40~11:00 전시데모 관람
11:00~11:40 비용 효율적으로 구성하는
All in One 계측기

NI 엄보세
3GPP, 5G New Radio 표준과
업계 연구 동향

5G포럼 위원장 강충구 교수
11:40~12:20 효율적인 혼합 신호 IC
테스트를 위한 솔루션
5G 통신 프로토타이핑:
mmWave 부터 Massive MIMO까지

NI 고재일
12:20~13:30 점심식사 및 전시데모 관람
13:30~14:10 PXI 기반 ATE 급
Vector 테스트 솔루션

NI 김규원
초고대역폭 채널라이저와
멀티 캐리어 어그리게이션

NI 김윤홍
14:10~14:50 RFIC 테스트 챌린지와
FEM(Front-End-Module) 테스트 기술

NI 유희선
802.11ax : High-Efficiency
Wireless LAN Testing

  범감 이창운 대표
14:50~15:10 휴식 및 전시데모 관람
15:10~16:00 NI 반도체 양산 테스트 솔루션
(LNA Wafer Test)과 적용 사례

 노바쎄미 김회직 이사
NFC & 무선 충전 인증 및 기술 동향
한국정보통신기술협회
16:00~16:30 NI 유지보수 프로그램 및 교정 소개
 HCT & NI 조한철
NFC & 무선 충전 테스트:
R&D부터 양산까지

누비콤
16:30~16:50 설문지 작성 및 경품 추첨

실습세미나 안내

시간 실습세미나명
10:40~13:30 테스트 자동화 시스템 구축하기
14:10~16:30 SDR 기반 무선통신 프로토타이핑 실습세미나

• 본 아젠다는 사정에 따라 일부 변경될 수 있습니다.

  측정 / 테스트 5G / 무선통신
10:00~12:00
*사전 신청자 대상
[실습세미나]
데이터 수집 및 분석 시작하기
[실습세미나]
SDR 기반 무선통신 프로토타이핑
12:00~13:00 행사 등록 및 전시 데모 관람
13:00~13:30 기조연설: Smart Device Test and Future Wireless Technology
13:30~14:10 소음 진동 어플리케이션을 위한
솔루션

NI 김종우
3GPP, 5G New Radio 표준과
업계 연구 동향
14:10~14:50 최신 산업용 IoT 기술을 활용한
스마트랩 구축하기
NI 김종우
5G 통신 프로토타이핑:
mmWave 부터 Massive MIMO까지

NI 고재일
14:50~15:10 휴식 및 전시데모 관람
15:10~15:50 국방/항공 임베디드 시스템
SW 검증을 위한 HIL

NI 주호중
초고대역폭 채널라이저와
멀티 캐리어 어그리게이션

NI 김윤홍
15:50~16:20 이온 클러스터 빔(TOF-SIMS) 개발사례
한국기초과학지원연구원 최명철박사
사람을 그리는 사람들 류용재팀장
효율적인 Array Antenna RADAR
테스트 및 시뮬레이션

  NI 이덕호
16:20~16:50 고속/고분해능 오실로스코프를 이용한 테스트 솔루션
NI 정동복
NI 유지보수 프로그램
및 교정 소개
NI 조한철
16:50~17:00 설문지 작성 및 경품 추첨

• 본 아젠다는 사정에 따라 일부 변경될 수 있습니다.

 

 

NI 테스트 기술 포럼 2017에서만 드리는 혜택!

 event

 

행사 안내

    • 본 행사는 무료이며, 참석하시는 모든 분들께 점심식사와 주차권이 제공됩니다. 
    • 행사 종료 후 설문에 참여하시는 분들을 대상으로 추첨을 통해 푸짐한 경품을 드립니다.

     

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